涂层厚度分析仪VR-XAU是一款先进的x射线荧光(XRF)分析仪，站在该领域的最前沿，在测量涂层厚度方面提供无与伦比的准确性和可靠性。无论您是要确保保护层的质量，优化生产工艺，还是进行关键研究，VR-XAU都是您不可或缺的合作伙伴。VR-XAU拥有先进的功能，可满足从航空航天到汽车零件，电子元素到贵金属等各个行业的广泛应用。
优势:
- 上照式设计，上下位机管理分工，可实现对 超大型工件的快、准、稳高效测量
- 定制SI-PIN检测器
- 无损变焦检测技术，手动变焦功能
- 先进的EFP算法不但对多层测试精准、校准 方便，而且解决了多层合金、上下元素重复 镀层及渗层的检测难题
- 高级频谱分解，减少邻近元素光谱的干扰， 提高测试精度和检出限
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